菲希爾鍍層測(cè)厚儀|X射線儀器

簡(jiǎn)要描述：

菲希爾鍍層測(cè)厚儀，F(xiàn)ISCHER測(cè)厚儀，菲希爾代理，F(xiàn)ischer鍍層測(cè)厚儀，菲希爾代理，F(xiàn)ischer。

更新時(shí)間：2024-07-04

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廠商性質(zhì)：經(jīng)銷商

生產(chǎn)地址：

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品牌	Helmut Fischer/德國菲希爾	價(jià)格區(qū)間	面議
產(chǎn)地類別	進(jìn)口	應(yīng)用領(lǐng)域	環(huán)保,制藥/生物制藥,綜合

菲希爾鍍層測(cè)厚儀

菲希爾X射線測(cè)厚儀特點(diǎn)：

XDV-μ/XDV-u-PCB

1、測(cè)量極微小部件結(jié)構(gòu)，如印制線路板、接插件或引線框架等；

2、分析超薄鍍層，如小于 0.1 μm的Au和Pd鍍層；

3、測(cè)量電子工業(yè)或半導(dǎo)體工業(yè)中的功能性鍍層；

4、分析復(fù)雜的多鍍層系統(tǒng)；

5、全自動(dòng)測(cè)量，如在質(zhì)量控制領(lǐng)域。

菲希爾鍍層測(cè)厚儀|X射線儀器

適用于無損分析和測(cè)量極微小部件機(jī)構(gòu)上鍍層的厚度，即使是復(fù)雜的鍍層結(jié)構(gòu)，也同樣應(yīng)付自如。

項(xiàng)目	XDV-u/XDV-u-PCB
品牌	菲希爾
可分析鍍層數(shù)	可同時(shí)測(cè)量23層鍍層，同時(shí)分析24種元素,進(jìn)行厚度測(cè)量和材料分析，從Al到U
計(jì)算方法	采用基本參數(shù)法（內(nèi)置純?cè)仡l譜庫），沒有標(biāo)準(zhǔn)片也可以測(cè)量
底材影響	無損測(cè)量鍍層時(shí)不受底材影響
特點(diǎn)	能夠顯示mq值（測(cè)量品質(zhì)顯示）
放大倍數(shù)	最高達(dá)到1080X （光學(xué)變焦: 30X，90X，270X；數(shù)字變焦: 1X，2X，3X，4X）
可用樣品平臺(tái)面積	寬x深：370mm x 320mm，開槽式設(shè)計(jì)，可測(cè)量大面積線路板