菲希爾 FISCHERSCOPE X-RAY XDL230 X 射線鍍層測厚儀

菲希爾 FISCHERSCOPE X-RAY XDL230 X 射線鍍層測厚儀

核心功能與技術(shù)優(yōu)勢

FISCHERSCOPE X-RAY XDL230 是一款高精密能量色散型 X 射線熒光（EDXRF）檢測設(shè)備，專為鍍層厚度測量、材料成分分析及溶液分析設(shè)計(jì)，支持無損檢測，廣泛應(yīng)用于質(zhì)量控制、進(jìn)料檢驗(yàn)和生產(chǎn)流程監(jiān)控。其核心技術(shù)亮點(diǎn)包括：




• 測量原理：基于 X 射線熒光光譜法，結(jié)合自動聚焦功能，確保樣品完整性與測量精度，無需破壞被測物。

• 元素與鍍層兼容性：可檢測Cl（17）至 U（92）全系列元素，支持最多24 種元素、23 層鍍層的同步分析，覆蓋復(fù)雜多層鍍層結(jié)構(gòu)。

• 硬件性能升級：

• 手動 X/Y 平臺：移動范圍≥95×150mm，工作臺面≥420×450mm，滿足多樣品批量放置與快速切換。

• 電動 Z 軸：支持手動 / 自動聚焦，行程≥140mm，適配不同高度（最高 140mm）的復(fù)雜形狀樣品。

• DCM 技術(shù)（測量距離補(bǔ)償法）：支持0-80mm 深度腔體樣品的遠(yuǎn)距離對焦測量，突破傳統(tǒng)接觸式檢測的空間限制。

• 可變高壓調(diào)節(jié)：提供 30kV、40kV、50kV 三檔選擇，靈活匹配不同材質(zhì)與鍍層厚度的檢測需求。

• 高精度準(zhǔn)直器：標(biāo)配 φ0.3mm 圓形準(zhǔn)直器，可選 φ0.1mm、φ0.2mm 及 0.3mm×0.05mm 長方形準(zhǔn)直器，滿足微米級區(qū)域的精準(zhǔn)測量。

• 信號采集系統(tǒng)：采用比例接收器實(shí)現(xiàn)高計(jì)數(shù)率，搭配高分辨率 CCD 攝像頭（40-160 倍放大），支持激光定位與 LED 照明，實(shí)時(shí)監(jiān)控測量點(diǎn)并快速校準(zhǔn)。