泰勒霍普森接觸式粗糙度儀DUO測(cè)量原理

泰勒霍普森接觸式粗糙度儀DUO測(cè)量原理

按一鍵即可測(cè)量多個(gè)粗糙度參數(shù)。這些參數(shù)(如Ra、Rz、Rp、Rv和Rt)會(huì)顯示在直觀的2.4英寸LCD彩色屏幕上。使用充電電池，便于在所有環(huán)境和表面進(jìn)行快速、輕松和精確的現(xiàn)場(chǎng)測(cè)量。

測(cè)量原理：通過(guò)采用耐磨的金剛石測(cè)針部件，以及精密的機(jī)動(dòng)驅(qū)動(dòng)裝置，確保行進(jìn)正確的水平距離。當(dāng)測(cè)針劃過(guò)波峰和波谷時(shí)，高感應(yīng)度的壓電傳感器能檢測(cè)到它的垂直移動(dòng)，然后將機(jī)械移動(dòng)轉(zhuǎn)化為電子信號(hào)。電子信號(hào)將進(jìn)行數(shù)字化處理并發(fā)送到微處理器， 然后使用標(biāo)準(zhǔn)化算法即時(shí)計(jì)算表面粗糙度參數(shù)。Surtronic DUO粗糙度儀