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菲希爾XDLM232信息

  • 發(fā)布日期:2025-01-07      瀏覽次數(shù):662
    • FISCHERSCOPE X-RAY XDLM系列是應用廣泛的能量色散型X射線鍍層測厚及材料分析儀。這款儀器專門是為測量超薄鍍層和微含量而設計,是用于質(zhì)量控制,質(zhì)量檢驗和生產(chǎn)監(jiān)控的合適的測量儀器。

      FISCHERSCOPE X-RAY XDLM設計為界面友好的臺式測量儀器系列。根據(jù)不同的預期用途,有不同的版本。

      XDLM231型的工作臺為固定式工作臺,馬達驅(qū)動的 Z 軸升降系統(tǒng)。

      XDLM232型配有可手動操控的 X/Y 工作臺,馬達驅(qū)動的 Z 軸升降系統(tǒng)。

      XDLM237型則配備了馬達驅(qū)動的 X/Y 工作臺,當保護門開啟時,工作臺會自動移到放置樣品的位置。馬達驅(qū)動的可編程 Z 軸升降系統(tǒng)。

      XDLM系列儀器帶有4個可切換準直器,3種可切換的基本濾片,采用比例接收器,測量距離為0-80mm。

      使用高分辨率的CCD彩色攝像頭

      儀器重量100kg-120kg

      儀器使用時溫度范圍10℃-40℃,空氣相對濕度為≤95%,無結(jié)露

      計算機要求:帶擴展卡的計算機系統(tǒng)

      可按要求,提供額外的XDLM型產(chǎn)品更改和XDLM儀器技術(shù)咨詢


    蘇公網(wǎng)安備32021402002648